元器件失效分析-失效分析-特斯特电子科技公司

微焦点X射线检测

主要技术参数：

1、开放式球管射线源，失效分析，高管电压160kV，大管电流1mA，大靶功率7W

2、焦点尺寸2μm

3、探测器倾斜角度为±70°，图像≥100万像素，灰度等级为16位

4、载物台可绕旋转轴360度旋转

5、大可检测样品重量5Kg

6、大可检测样品尺寸为

460mm×410mm×300mm

用途：可用于半导体产品、微电子元件、电路板焊接器件等电子产品焊点质量检测及多余物检测，元器件失效分析，也可进行小直径管焊缝质量检测。

微焦点技术的优势

1、 通过使被透照物体靠近射线源，远离胶片，获得放大的原始细节图像。减轻检测疲劳。

2、 对于一定厚度的被透照物体，微焦点可以放大被检测物的细节提供更一致的清晰度。

微焦点x射线设备具备图像放大，提高空间分辨力，减少散射的能力，失效分析仪，从而使它成为工业CT系统的理想射线源。

X-RAY WorX GmbH是德国高科技研发型公司，研发了具有**高灵活性、**高稳定性、****的开放式微焦点X射线管，分为透射式微焦点X射线管、反射式微焦点X射线管、头X射线管和棒阳极微焦点X射线管。可根据不同的应用，选择不同的靶功率（10W、15W、25W、50W、300W等）和电压（65W、100kV、160kV、190kV、225kV、240kV和300kV等）。